1. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis /
پدیدآورنده : by Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع : Materials science.,Measurement.,Microscopy.,Physical measurements.,Spectrum analysis.,Biological Microscopy.,Characterization and Evaluation of Materials.,Materials science.,Materials Science.,Measurement Science and Instrumentation.,Measurement.,Microscopy.,Physical measurements.,Spectroscopy and Microscopy.,Spectroscopy.,Spectroscopy/Spectrometry.,Materials science.,Measurement.,Microscopy.,Physical measurements.,Spectrum analysis.
رده :
TA404
.
6
2. Scanning electron microscopy and x-ray microanalys
پدیدآورنده : Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : ، Scanning electron microscopy,، Microscopy, Electron, Scanning,، Scanning electron microscopy
رده :
QH
212
.
S3
S29
2018
3. Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
پدیدآورنده : Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع : Scanning electron microscopy.,Biology, life sciences.,Mensuration & systems of measurement.,Scanning electron microscopy.,Science-- Life Sciences-- General.,Science-- Spectroscopy & Spectrum Analysis.,Science-- Weights & Measures.,Spectrum analysis, spectrochemistry, mass spectrometry.,Technology & Engineering-- Material Science.,Testing of materials.
رده :
QH212
.
S3